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產(chǎn)品名稱(chēng)： 掃描開(kāi)爾文探針
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產(chǎn)品展示
參數
開(kāi)爾文探針(Kelvin Probe)是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。材料表面的功函數通常由最上層的1-3層原子或分子決定，所以開(kāi)爾文探針是一種最靈敏的表面分析技術(shù)。主要型號：KP020 (單點(diǎn)開(kāi)爾文探針)，SKP5050(掃描開(kāi)爾文探針)。
掃描開(kāi)爾文探針系統 (SKP)：
SKP5050系統是一款可以被大多數客戶(hù)所接收的高端掃描開(kāi)爾文探針系統，它是在SKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置，其規格如下：
□ 2毫米探針，50微米探針(選配)；
□ 功函數分辨率 1-3 meV(2毫米針尖)，5-10 meV(50微米針尖)；
□ 針尖到樣品表面高度可以達到400納米以?xún)龋?br>
□ 表面勢和樣品形貌3維地圖；
□ 探針掃描或樣品掃描選配；
□ 彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專(zhuān)業(yè)的光學(xué)固定裝置；
□ 參考樣品(帶相應的掃描開(kāi)爾文探針系統的形貌)；
□ 備用的針尖放大器；
儀器特色：
□ 全球第一臺商用的完全意義上的開(kāi)爾文探針系統；
□ 最高分辨率的功函數和表面勢，最好的穩定性和數據重現性；
□ 非零專(zhuān)利技術(shù)(Off-null, ON) ——ON信號探測系統在高信號水平下工作，與基于零信號原理(null-based, LIA)的系統相比，不會(huì )收到噪聲的影響擁有高靈敏度；
□ 高度調節專(zhuān)利技術(shù) ——我們的儀器在測量和掃描時(shí)可以控制針尖的高度。因為功函數受樣品形貌的影響，針尖與樣品表面距離的調節意味著(zhù)數據的高重現性且不會(huì )漂移；
□ 該領(lǐng)域內，擁有最好的信噪比；
□ 快速響應時(shí)間 ——測量速度在0.1-10秒間，遠快于其他公司產(chǎn)品；
□ 功能強的驅動(dòng)器 ——選用Voice-coil(VC)驅動(dòng)器，與通常的壓電驅動(dòng)器相比，VC驅動(dòng)器頻率要穩定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作；
□ 所有開(kāi)爾文探針參數的全數字控制；
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ON |
非零探測 Off Null detection |
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HR |
高度調節模式 Height Regulation mode |
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SM |
實(shí)際開(kāi)爾文探針信號監控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal |
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UC |
用戶(hù)通道，同時(shí)測量外部參數 User Channels, simultaneous measurement of external parameters |
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DC |
電流探測系統去除漂移效應 Current Detection system rejects stray capacity effects |
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PP |
平行板震動(dòng)模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode |
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SA |
信號平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) |
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WA |
功函數平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting |
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DC |
所有探針及探測參數的數字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters |
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QT |
針尖快速改變 Quick-change Tip, variable spatial resolution |
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DE |
數據輸出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software |
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OC |
輸出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit |
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FC |
法拉第籠(電磁干擾防護罩) Faraday Cage (EMI Shield) |
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RS |
金-鋁參考樣品 Gold-Aluminium Reference Sample |
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額外選配項 |
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SPV |
表面光伏電壓軟硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package |
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RH |
相對濕度腔 Relative Humidity Chamber |
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AC |
控制氣體進(jìn)口的環(huán)境單元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet |
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EDS |
外部數據示波鏡 External Digital Oscilloscope |
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OPT |
彩色相機 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts |
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ST |
針尖置換 Replacement Tips |
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GCT |
鍍金的針尖替換 Gold Coated Replacement Tips |
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XYZ |
25.4毫米手動(dòng)3維控制臺 3-axis 25.4 mm Manual Stage |
應用領(lǐng)域：
吸附，電池系統，生物學(xué)和生物技術(shù)，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術(shù)，教育，光/熱散發(fā)，費米級掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術(shù)，Oleds，相轉變，感光染色，光伏譜學(xué)，高分子半導體，焦熱電，半導體，傳感器，皮膚，太陽(yáng)能電池，表面污染，表面化學(xué)，表面光伏，表面勢，表面物理，薄膜，真空研究，功函數工程學(xué)；
參考用戶(hù)：
吉林大學(xué)、哈工大、大連理工大學(xué)、湖南大學(xué)、浙江大學(xué)、復旦大學(xué)、華中科技大學(xué)、華南理工大學(xué)、合肥工大、中科院納米中心、中科院理化所、中科院高能所等...
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